Prensa Mincyt/Edith García.-Investigadores venezolanos del Centro de Ingeniería de Materiales y Nanotecnología del Instituto Venezolano de Investigaciones Científicas (IVIC) se encuentran trabajando en el diseño y la construcción de un equipo para afilar y controlar la simetría, forma y tamaño de la punta del nanoscopio STM, obtenido en convenio con Irán para la captación de imágenes de alta resolución.
El proyecto, que se encuentra en etapa de prototipo, estima tener listas las primeras puntas elaboradas en tungsteno del orden del nanómetro o menos, lo que permitirá mejorar la calidad y resolución de las imágenes que garantiza este aparato con capacidad de barrido de efecto de túnel.
Antonio Monsalve, magíster en Física investigador del IVIC, destacó que este trabajo empezó en 2020 con la caracterización de nanopartículas de cobre producidas por el método de reducción de iones de cobre a cobre metálico por electrospinning. Su desarrollo forma parte del proyecto denominado “Nanocaracterización de nanomateriales producidos por varios métodos los cuales pueden ser físicos, químicos, biológicos o una combinación de ellos”.
“Observamos la necesidad de controlar la simetría, forma y tamaño de la punta del nanoscopio STM para aumentar la resolución de las imágenes y, así, poder ver con mayor detalle la superficie de la muestra en estudio”, señaló el investigador.
Monsalve aclaró que estas puntas se pueden comprar, pero sus costos oscilan entre los 50 y 500 dólares dependiendo del nivel de agudeza; pero se hace muy difícil conseguirlas dadas las limitaciones que impone el bloqueo imperial.
Indicó que una punta del orden del angstrom puede costar 500 dólares. El objetivo es “hacer las puntas artesanalmente con un equipo, haciendo un corte con ángulo agudo en relación con el eje axial del alambre de tungsteno (W)”, puntualizó el físico.
